

Теория тестирования логических устройств
Авторы: Кудрявцев В.Б., Гасанов Э.Э., Долотова О.А., Погосян Г.Р.
Садовничий В.А.
Издательство: Физматлит
ISBN 978-5-9221-0727-3; 2006 г.
Кол-во страниц: 160
О книге:
Тестирование логических устройств — активно развивающееся научноприкладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов. Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.