Основы метрологии, стандартизации и сертификации
Основы метрологии, стандартизации и сертификации
Авторы: Камышова Н.В.
Издательство: НИУ ИТМО (Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики)
2013 г.
Кол-во страниц: 26
Предварительный просмотр:
О книге:
Даны рабочая программа, рекомендации по выполнению контрольного задания, лабораторных и практических занятий и указания к организации и проведению самостоятельной работы студентов всех специальностей и всех форм обучения.