Метрология и сертификация диагностического оборудования и материалов. Книга 2. Методы диагностики и сертификации материалов и нанотехнологий
Метрология и сертификация диагностического оборудования и материалов. Книга 2. Методы диагностики и сертификации материалов и нанотехнологий
Авторы: Богомолов Е.Н., Глушков Г.С., Жданов Д.С., Сырямкин В.И., Сунцов С.Б.
Издательство: Национальный исследовательский Томский государственный университет
Издание: 2-е
ISBN 978-5-94621-522-0; 2015 г.
Кол-во страниц: 164
Предварительный просмотр:
О книге:
В учебном пособии рассмотрены актуальные проблемы метрологического обеспечения диагностического оборудования и сертификации материалов. Для студентов, обучающихся по направлениям: 510500 «Химия» (специальность 011000 «Химия»), 210600 «Нанотехнология», 222900 «Нанотехнология и микросхемная техника».
