Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Авторы: Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
Издательство: ЛАНЬ
Издание: 2-е изд., стер.
ISBN 978-5-8114-8773-8; 2021 г.
Кол-во страниц: 284
Предварительный просмотр:
О книге:
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».