LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий
Авторы: Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф.
Издательство: ДМК-Пресс
Издание: 2-ое, переработанное и дополненное
ISBN 978-5-94074-498-6; 2009 г.
Кол-во страниц: 232
Предварительный просмотр:
О книге:
Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей результатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измерения электрических и неэлектрических величин. Все работы практикума выполняются с компьютерными моделями, реализованными в среде LabVIEW. Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по направлениям: «Приборостроение», «Информационные системы», «Автоматика и управление», «Информатика и вычислительная техника», изучающих курсы «Метрология, стандартизация и сертификация», «Теоретические основы измерительных и информационных технологий», «Методы и средства измерений» и смежные дисциплины. Практикум может использоваться как при традиционной организации учебного процесса, так и при ориентации на компьютерные обучающие системы, включая систему дистанционного образования.