Методы диагностики полупроводниковых материалов и гетероструктур
Методы диагностики полупроводниковых материалов и гетероструктур
Авторы: Кремлева А. В., Сокура Л. А., Смирнов А. М., Дорогов М. В., Виткин В. В., Викторов Е. А., Бугров В. Е., Романов А. Е.
Издательство: НИУ ИТМО (Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики)
2021 г.
Кол-во страниц: 40
Предварительный просмотр:
О книге:
Лабораторные работы, представленные в настоящем учебно-методическом пособии, предлагаются для выполнения студентам, обучающимся по направлению подготовки 16.04.01 «Техническая физика», для закрепления и применения знаний, полученных на лекциях, практических занятиях и во время самостоятельной работы. Учебно-методическое пособие посвящено исследованию оптических и структурных свойств полупроводниковых материалов и гетероструктур, применяемых в приборах и устройствах оптоэлектроники. Студентам предлагается пройти обучение на современных установках, использующихся в реализации действующих научных проектов, и научиться интерпретировать полученные экспериментальные данные. В учебно-методическом пособии также приведена теоретическая справка к лабораторным работам.
Учебно-методическое пособие к выполнению лабораторных работ подготовлено на факультете лазерной фотоники и оптоэлектроники.