Расширенный поиск
Все разделы
Корзина
у вас нет товаров
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ
Издательство: Лаборатория знаний (ранее "БИНОМ. Лаборатория знаний")
ISBN 978-5-9963-2123-0; 2014 г.
Кол-во страниц: 600

Положить в корзину

О книге:

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных на- ноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Вверх